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该研究团队提出了一项基于含时密度泛函理论（TDDFT）结合Ehrenfest核动力学的理论研究，探讨了高能C5+离子诱发吡嗪分子库仑爆炸成像（CEI）的过程。通过系统改变入射离子相对于分子平面的撞击点与方位，研究人员对比了正交撞击与平面内撞击两种轨迹模式，并定量分析了其对碎片动量、电子密度响应及原子分辨电离的影响。 牛顿动量图谱和时分辨电子密度快照显示：避免直接原子碰撞的离子轨迹能实现最精确的分子结构重建，而直接撞击会引发高度局域化的剧烈动量传递，导致重建几何构型失真。由于更深穿透分子电子云层，平面内轨迹比正交轨迹产生显著更强的电离效应和更宽的动量分布。10飞秒时刻的电子剥离定量分析证实，入射离子的接近距离与方位对局部和全局电离均具有显著调控作用。 这些发现阐明了撞击几何构型如何决定离子诱发CEI结构重建的精确度，并为解释实验CEI测量中的变异性和噪声提供了理论依据。更广泛而言，该工作既揭示了离子诱发CEI技术的优势，也明确了其固有局限性，为实验数据解读提出了关键考量因素。