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该研究团队提出了一种简单直接的激光啁啾速率测量方法，即适用于单量子发射体激发功率水平的超短激光脉冲群延迟色散（GDD）测量技术。传统脉冲表征技术依赖需要高峰值功率的非线性光学过程，使其无法适用于量子光子学中阿焦耳至飞焦耳量级的低功率场景。该方案采用波长-时间映射方法，通过超导纳米线单光子探测器记录宽带脉冲经光谱滤波后的各分量到达时间，并利用高精度时间标记系统进行关联分析。由此获得的波长与到达时间之间的线性关系可直接导出色散参数，进而计算GDD值。除单发射体激发外，该技术还可应用于单光子光谱学、超低功率光通信及时域量子控制等领域——这些场景都需要线性且非破坏性的色散表征手段。