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自由电子与光子之间的量子耦合使得量子光学技术可应用于电子显微镜领域。该研究团队系统阐述了弹性电子-光子量子耦合机制及其潜在影响。研究表明，当电子穿过光学腔场时，会在受限光子模式上诱导相位偏移，这种现象可量化为自由电子的折射率。该原理可用于在不改变量子态的情况下对电子束进行计数。这种弹性散射算子在电子显微镜内构成了电子-光子系统的电子计数色散哈密顿量，有望实现埃尺度下的量子极限及亚散粒噪声水平传感与成像。