量子科技中心_量科网

该研究团队通过逐列采样尺寸为N、深度为T的含噪声二维随机克利福德电路，系统研究了测量诱导纠缠现象。重点关注采样诱导边界态的算子纠缠熵S_op时，研究者在无噪声极限下重现了从面积律到体积律标度的有限深度相变。当存在任意恒定速率p>0的单点位迹噪声时，采样轨迹中获得的最大S_op遵循边界长度的面积律，并近似与T/p呈线性缩放关系。 通过分析稳定子生成子的空间分布，研究人员观察到稳定子生成子呈现指数级局域化特征。这一现象既解释了最大S_op的标度行为，也预示着缓冲三分区条件下条件互信息将呈指数衰减——该结论已通过数值模拟得到验证。这些结果表明，恒定的局部噪声会彻底破坏二维随机克利福德电路中长程、体积律的测量诱导纠缠。 基于观测到的标度规律，该工作提出两项猜想：针对任何恒定噪声速率p=Ω(1)的情况，(i)基于张量网络的算法可在次对数深度T=o(logN)下高效采样含噪二维随机克利福德电路；(ii)当噪声速率p=Ω(log⁻¹N)时，该算法在恒定深度T=O(1)条件下仍能保持高效采样特性。