集成光子平台具备高速纠缠生成与验证能力

在光子芯片上实现高速生成和高效纠缠检测对于量子信息应用至关重要,但由于常见光子芯片的材料特性和有限组件性能而难以实现。该工作通过实验在硅光子芯片上演示了纠缠见证,采用基于诱骗态技术的多轨单光子纠缠生成方案。检测系统基于同一光子芯片上的带宽高达12.5 GHz的平衡零差探测器,支持室温操作。通过损耗等效分析方法补偿光学损耗和系统噪声。实验结果表明,量子态层析成像中纠缠态保真度达到92%,克劳瑟-霍恩-希莫尼-霍尔特(CHSH)不等式违反下界为2.59。这些成果为完全集成化、高带宽、室温运行的量子光子系统开辟了可行路径,在片上量子光学和量子随机数生成领域具有潜在应用价值。
作者所在地: VIP可见
作者单位: VIP可见
页数/图表: 登录可见
提交arXiv: 2025-10-06 06:55

量科快讯