单层CdSe/CdS纳米片中三激子与双激子结合能的相关性:基于预示光谱的揭示
半导体纳米片具有减弱的俄歇复合效应,因此展现出增强的多激子发光特性。这一优势使其成为研究高阶载流子动力学的理想对象,可帮助提取关键激子特性(如双激子与三激子结合能),这些特性对高激发通量应用具有重要影响。本研究通过单核/壳层CdSe/CdS纳米片观测三激子发光,采用先进自研单光子光谱仪实施预示后选择光子三重态测量,在时间与光谱维度上清晰解析了三激子→双激子→激子→基态的级联弛豫过程,明确了三激子弛豫路径及相互作用本质。结果显示双激子和三激子特征性蓝移现象,表明所研究纳米片中存在排斥性多激子相互作用。三激子相对较小的测量能移(5.9±0.7 meV)说明其通过1S能带而非1P能带重组,该结论与其他胶体量子点体系的研究结果一致。尤为重要的是,双激子与三激子结合能之间的强相关性,以及通过调控颗粒尺寸与组分实现能带调谐的能力,为开发近简并光子三重态发射器开辟了新路径。
