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虽然标准量子测量属于投影式测量，但最广义的测量概念由正算子值测度（POVM）来表征。因此，一个仅能进行投影测量和经典信息处理的实验者如何精确模拟POVM，就成为自然的研究课题。在非投影测量中，最具代表性的一类被称为对称信息完备测量（SIC）。这类测量不仅在量子信息理论的广泛范畴中普遍存在，更被公认为量子比特系统中最具非投影特性的测量方式。本研究表明，对于超出量子比特的系统，SIC特性通常不再与最强的非投影测量相关联。为此，该团队提出了一种用于检测本质非投影测量的半定规划判据。该方法不仅能够确定通用POVM的定量可模拟性阈值，还促使研究人员针对三维和四维量子系统中最具非投影特性的测量方式提出新猜想。