量子电路稳定性中由隐藏参数统计引发的分岔现象
量子电路的压缩是近期量子计算面临的一个基础性挑战,然而控制电路稳定性的原理至今仍不甚明晰。该研究团队通过对10、12和14量子比特的300个结构统一电路进行大规模数值分析,发现尽管这些电路具有宏观均匀性,但每个集合都会普遍分化为稳健型与脆弱型两类。研究人员揭示了这种突现分化的奥秘,证明其根源并非结构差异,而是编码于门旋转参数的统计特性之中。 脆弱型电路始终表现出“统计脆性”的普遍特征,具体表现为参数变异性低且小角度门稀缺。该工作阐明了这一现象背后的物理机制:“悖论重要性”——较小角度的门对电路功能反而具有更关键的影响,这种反直觉效应在脆弱型电路中尤为显著。这种对参数微调的依赖性解释了为何具有统计脆性的电路在压缩过程中特别容易失效。 这些发现为设计稳健的量子算法建立了新框架,将研究重点从宏观结构转向电路参数的微观统计特性。
