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超导量子计算机的快速规模化发展，突显了器件层面差异性对整体电路保真度的重大影响。尤其值得注意的是，制造工艺导致的电容和约瑟夫森临界电流等器件参数波动，给大规模集成带来了显著挑战。该研究团队提出了一种基于经典电路模拟的量子比特保真度估算方法，采用传统集成电路仿真程序（SPICE）模拟器。这种方法能在标准笔记本电脑上评估包含10000个量子比特的超导量子电路性能。该工作为早期评估大规模超导量子电路性能提供了一种便捷工具。