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在该工作中，研究人员探究了随机量子测量的不相容性问题。此前多数研究聚焦于固定维度下具有固定结果数量的固定数量不相容测量，在转变为相容测量前所能承受的最大白噪声量表征，这可用于量化此类系统中的最大不相容程度。本文研究了多类随机测量的不相容性，即系统可提供的通用不相容量。特别地，研究团队证明：当参数选择恰当时，随机二分投影测量与随机基测量均接近具有最大不相容性。该工作采用不相容性见证技术进行验证，并结合随机矩阵和自由概率理论的数学工具。