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量子比特测量过程中的状态跃迁对依赖重复测量的量子任务（如量子纠错）极为不利。这些状态跃迁可能由两种机制引发：一是过强的测量功率导致量子比特被激发至计算空间之外；二是测量方案无意中将量子比特耦合至有损模式（如二能级系统）引发快速退相干。该团队通过测量不同磁通偏置下的跃迁错误率，实验验证了二能级系统对量子比特读出的影响。由于此类测量态跃迁往往在频域呈现局部化特征，研究人员利用fluxonium量子比特的磁通可调性，在读出过程中成功规避了这些跃迁。通过将磁通偏置与读出光子动力学同步，该工作实现了1微秒（0.5微秒）积分时间内99%（98.4%）的最佳读出保真度。该研究深化了对超导电路测量中态跃迁现象的理解，同时展现了fluxonium量子比特实现快速高保真度读出的潜力。