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具有高品质因数的超导谐振器对于与其耦合的材料和器件复阻抗具有极高检测灵敏度。该特性已被用于测量多种材料的损耗，并在电路量子电动力学（circuit QED）领域实现了对不同类型量子比特相干演化的观测。本研究报道了一种用于探测量子相干器件的扫描谐振器系统。该扫描装置无需制造片上超导谐振器即可实现与目标系统的可调谐相干耦合。研究人员测得该谐振器传感器在单光子态下的内部品质因子>10000，并展示了其在毫开尔文温度下具有zeptofarad级电容检测灵敏度和微米级空间分辨率的成像能力。随后利用该装置对多个无片上读出电路的transmon量子比特进行了能谱和相干时间表征。该工作为利用电路QED技术测量现有及新型量子比特平台提供了一种创新工具。