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该研究团队探索了随机化超图态的纠缠特性，将随机化图态的概念扩展到基于超图的量子态范畴。在此模型中，研究者采用概率化方式施加不完美的广义多量子比特门，模拟实验中真实存在的噪声门操作——其中门保真度会随超边阶数的增加而降低。研究分析了这些混合多量子比特态的二部纠缠及真多部纠缠特性。针对四量子比特以内的多种超图构型，数值模拟结果展现出丰富且非单调的纠缠行为，这种特性源于超边结构与门操作缺陷间的相互作用。该工作基于随机化重叠推导出新型超图家族的纠缠见证解析表达式。这些发现深化了学界对门操作缺陷下纠缠鲁棒性的认知，为噪声量子设备中超图态的实验实现提供了理论依据。