改进的采样界限与可扩展分区技术:超越二分法的量子电路切割

该研究团队提出了一种量子电路切割位置识别新方法,主要聚焦于将电路划分为三个及以上部分。在经典后处理函数可分解的假设条件下,研究团队推导出时空间切割所产生采样开销的新上界,并证明在三分区及以上情况下,该上界较先前已知边界有数量级提升。基于此边界,研究人员构建了目标函数LQ,并提出一种最小化该函数的切割位置确定方法。计算时间测试表明,该方法优于既有方案。通过LQ指标衡量,除极少数案例外,所得划分质量与基线方案相当或更优。这些成果通过对一系列具有量子计算优势规模和类型的基准电路进行切割位置识别获得。

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