动态电路中抗漂移的中段测量误差缓解技术

动态量子电路的量子误差缓解(QEM)具有两个关键重要性:首先,量子纠错(QEC)电路本质上属于动态电路,因此兼容的QEM技术可拓展电路深度并解决QEC难以处理的误差;其次,最新研究表明动态电路性能可显著超越纯酉电路。但电路运行中的测量误差仍是主要瓶颈。现有方案依赖易受时变噪声影响的读出噪声表征,该研究团队提出了一种抗漂移协议,无需校准即可解决初始制备、运行时及终态测量误差。其中一套方案采用重复测量的奇偶校验(适用于超导量子比特),另一套则利用重置与前馈机制(适用于囚禁离子)。该工作已在IBMQ和Quantinuum硬件上完成实验验证,结合分层KIK门误差缓解协议,这种读出缓解方法实现了动态电路的“端到端”误差抑制,可提升QEC实验效果。所提方法还能应用于以下场景:作为门集层析的更快速替代方案,以及目标算法执行过程中的缺陷量子比特诊断。

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