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串扰是量子计算机规模化发展的关键障碍。它可能源于持续的量子比特间耦合，也可能在门操作过程中动态产生，后者尤其难以检测。该团队引入完美纠缠体谱作为识别导致非预期纠缠的动态串扰的方法，该方法基于两量子比特门在完美纠缠体方面的几何分类。研究人员以固定频率传输子量子比特和参数驱动门为例演示了该谱学的应用：当扫描旁观量子比特频率时，完美纠缠体谱中的峰值标志着动态串扰，峰值分析则揭示了引发串扰的机制。该工作还讨论了需要两次两量子比特门层析成像的串扰谱学实验实施方案。