熔融石英多层离子阱的测试与表征
离子阱是实现未来量子计算机的一种前景广阔的架构。要将离子阱设备扩展到数百个离子规模,需要克服信号布线、功率耗散和制造质量等若干挑战。目前离子阱通常基于硅基板制造,导致高功率耗散问题。更理想的解决方案是采用能降低功率耗散的衬底材料。该研究团队展示了在工业设施中制造并测试的熔融石英衬底多层金属离子阱,其设计和材料堆叠均针对最小化功率耗散进行优化。研究还集成了可工作至10K低温的温度传感器并进行表征验证。此外,该工作开发了自动化晶圆测试流程,确保每个阱芯片在集成至实验装置前完成验证。通过单囚禁离子探针测试,该团队表征了电场噪声和杂散电场情况,其性能表现优于同类硅衬底离子阱设计方案。
