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该工作重新审视了非厄米横场伊辛模型中的量子退火问题。研究人员通过解析和数值两种方法确定了本征跃迁概率及其导致的缺陷密度。该研究的结果揭示，与缺陷产生主要由能隙闭合点附近模式主导的厄米情形不同，非厄米动力学涉及广泛动量扇区的显著贡献。研究人员发现，根据耗散强度的不同，缺陷密度呈现出标准的Kibble-Zurek标度、反Kibble-Zurek行为以及比Kibble-Zurek预测更快的抑制现象。该工作证明，这些偏离标准Kibble-Zurek标度的现象可以通过潜在的激发概率来理解。具体而言，缺陷密度的快速衰减源自一个在任意退火时间内、覆盖所有允许模式（甚至包括能隙闭合点）的零激发概率区间。相比之下，反Kibble-Zurek行为则源于在广泛允许模式（特别是那些远离能隙闭合区域的模式）中，耗散促进的额外激发。