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超均匀性的检测关键取决于对系统静态结构因子在小波数行为上的精确表征。然而在实践中，测量通常在有限子系统上，或通过有效遮蔽底层构型部分信息的不完全观测进行。受近期一项数值研究的启发 [Y. Liu, X. Li, J. Tian, X. Yan, G. Zhang, {\it J. Chem. Phys.} {\bf 164}, 094102 (2026)]，该团队发展了一个统一的理论框架，用于量化有限窗口和空间相关二值掩模如何改变观测到的结构因子。该研究表明，测量得到的结构因子 \(S_{obs}(k)\) 是内在结构因子与观测函数（无论是紧致窗口还是扩展随机掩模）谱密度的卷积。对于具有小 \(k\) 标度 \(S(k)\sim k^α\) 的通用超均匀系统，有限观测窗口会在足够小的波数（即 \(k \lesssim 1/L\)）处诱发一个通用的二次泄漏项，从而产生与真实指数无关的明显 \(k^{2}\) 标度。真实的超均匀指数 \(α\) 只能在中间区间 \(1/L \ll k \ll q_c\) 内测量到。在潜行超均匀系统中，由于内在结构因子具有谱间隙，所有观测到的小 \(k\) 功率完全来源于这一卷积机制。对于空间相关掩模，该研究推导了掩模谱密度下的对应卷积关系，并识别出超均匀特征被抑制、保留或扭曲的条件。该团队的成果建立了可靠提取内在标度指数以及区分真实超均匀序与测量引入伪影的定量判据。