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由自发参量下转换过程（SPDC）产生的高维空间纠缠双光子态，已成为量子信息科学多个应用领域中颇具前景的资源。为充分利用高维纠缠的优势，需具备在施密特基下的探测能力。空间纠缠已在多种模态基（如像素基、方位角基和径向基）中得到探索。其中，像素纠缠和方位角纠缠因其施密特模态可高效访问而被广泛利用，而径向模态纠缠仍未得到充分开发。这是因为对于径向坐标而言，SPDC光子既不存在施密特分解形式，也缺乏测量高维径向施密特模态的技术，这成为利用径向模态优势的主要障碍。本工作中，该团队首先从理论上证明，在典型实验条件下，SPDC双光子态的方位角平均可产生径向施密特分解形式。随后，该研究展示了一种创新方法，通过表征其中一个SPDC光子在径向基下的密度矩阵，提取径向施密特模态及其光谱。最终，该团队首次报道了对多达50个径向施密特模态的径向施密特光谱测量，保真度约为98%。