量子科技中心_量科网

在电路量子电动力学中，对transmon量子比特进行色散读取时，若测量驱动幅度较小或中等，其量子非破坏特性会丧失。这一现象源于意外多光子共振处的朗道-齐纳跃迁：当 \(n\) 个驱动光子可使transmon跃迁 \(m\) 个能级。已有研究表明，该解释与表征单个transmon色散读取的实验结果一致。然而，对于嵌入多量子比特芯片中的transmon，这些测量诱导态跃迁（MIST）的影响尚待深入探索。该团队发现，其他组件（如量子比特和耦合器）的存在会改变被测transmon的MIST阈值。为得出这些结论，该工作提出了一种通用方法，用于表征待读取量子比特与其他电路元件耦合时的测量诱导跃迁——这是基于电路量子电动力学的量子处理器中的常见情形。例如，该团队考虑了双transmon量子比特的情况，并展示了旁观量子比特可能受到被测量子比特的测量诱导跃迁影响；反之，旁观量子比特的存在也会降低被测量子比特的MIST阈值。最后，该工作探讨了在两量子比特间加入耦合模式后如何进一步改变这些效应。