测量量子比特系统中的纠缠度
提出了一种在平衡双路径干涉仪中测量纠缠的操作性方法,其中路径信息由某个内部自由度携带,该自由度又与辅助系统纠缠。该分析基于一个包含路径、内部量子比特自由度和与该内部自由度纠缠的辅助态的三方描述。随后,该方法被应用于两种物理上不同的实验场景:一种改进的施特恩-格拉赫干涉仪(使用自旋1/2粒子)和一种马赫-曾德尔干涉仪(使用携带偏振的光子)。辅助自由度可能在实验中不可观测。通过忽略辅助系统,并采用基于内部自由度的量子擦除过程,该研究证明,基于并发的纠缠度量(内部自由度与辅助系统之间的纠缠)可以直接从两个输出通道的可测量不对称性中提取。这些结果表明,干涉实验中的退相干、量子擦除和纠缠估计源于相同的底层关联结构,并为量化量子比特系统中的纠缠提供了一个紧凑且实验可行的框架。

