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该团队提出了一种基于辅助量子比特测量后选择的低开销量子纠错技术。该方法利用了结构特性：在无错误计算中，辅助量子比特在使用后通常应回归零态。通过在电路中的关键位置选择性测量这些量子比特，可以识别并丢弃错误运行，从而以最小硬件开销提升结果保真度。为考虑包括测量误差在内的电路噪声，研究人员分析了测量结果指示错误运行的可能性。该分析基于测量的后向光锥，即可能影响该结果的一组电路操作。辅助量子比特测量结果暗示错误可能性超过可调阈值的运行将被拒绝。仿真表明，该方法在仅丢弃约1%有效运行的同时，将假阴性率降低了约10%。该阈值控制着后选择固有的偏差-方差权衡，使该方法能够适应不同应用场景的保真度和采样需求。