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拓扑纠缠熵（TEE）是表征二维能隙物质相中长程纠缠的关键诊断量，但可能因虚假贡献而高估底层拓扑序的总量子维度。本研究揭示了虚假TEE的微观起源，并提出了一种用于计算质数维度量子比特平移不变稳定子码的Levin-Wen TEE的凹形分割方法。该工作严格证明了该方法可消除虚假贡献。作为互补探测手段，该团队在二分圆柱上研究了双变量自行车码，发现纠缠熵对圆柱周长敏感，揭示了底层任意子的拓扑阻挫效应。