单副本稳定器学习:平均情况与最坏情况

该团队研究了单拷贝稳定子学习问题,即从n量子比特态ρ中识别维度为n-t的稳定子群。研究获得了两项互补性成果:首先在平均情况下,对数深度的局部克利福德电路即可高效学习几乎所有t=O(logn)的稳定子群,突破了以往方案所需的线性深度测量要求。该结论通过多达100量子比特系统的数值模拟得到了验证。其次研究表明,在最坏情况下,任何自适应单拷贝测量方案所需的样本数都与t呈指数级增长。结合现有双拷贝学习的研究成果,本工作表明:对于较大t值的情形,识别量子系统的泡利对称性在学习场景中展现出量子优势。
作者单位: VIP可见
提交arXiv: 2026-04-27 06:44

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