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量子纠错码（QEC）的传统定义和搜索过程通常不会具体说明其症状提取电路如何通过基本门操作和测量来执行。本研究展示了参考文献[1-3]中引入的变形电路如何提供一种优化方法，能直接针对连接性、双量子比特门选择（ISWAP与CNOT）及物理量子比特数量来优化症状提取电路与编码方案。该团队探讨了变形电路在阿贝尔双区块群代数（2BGA）编码优化中的应用，包括处理二维编码的边界问题、具备单次测量特性的编码方案，以及提升针对测量与重置错误的稳定性实验表现。研究证明，采用时间反转轮换执行的交替症状提取电路可视为一种两轮变形电路，其容错特性的计算验证难度远低于非交替式症状提取电路。通过该方法，研究人员发现了具有实用价值的新编码方案和症状提取电路，其中包括代码参数和连接性优于现有方案的阿贝尔2BGA变形电路。[1] Matt McEwen, Dave Bacon与Craig Gidney，《利用时间动力学降低表面码电路的硬件要求》，Quantum期刊第7卷第1172页，2023年。[2] Craig Gidney与Cody Jones，《色码的新电路与开源解码器》，2023年。[3] Mackenzie H. Shaw与Barbara M. Terhal，《采用变形电路降低双变量自行车码的连接性要求》。