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在存在量子比特损耗的情况下，容错纠错（FTEC）的基础构建模块需要重新审视。现有的损耗容忍方法主要针对特定架构设计，且很少关注在损耗条件下优化症状测量序列。基于标准泡利误差模型的方案无法直接适用，因为当泡利误差和擦除错误同时出现时，症状模式会发生变化。基于近期在损耗检测单元和容忍损耗的症状提取器件方面的进展，该研究团队将自适应肖尔式测量序列的研究扩展至混合误差模型。 研究首先探讨如何自适应地将可纠正擦除错误转换为定位错误，其最小开销通过稳定子测量次数来量化——该指标可归结为任意量子比特或素数维量子比特容错纠错电路中擦除错误引发的子群维度问题。作为副产品，该工作给出了复合维度量子比特稳定子群关于给定二分划的规范生成集构造方法。随后，研究团队分别推广了弱容错和强容错纠错条件。最终，针对混合误差模型提出了自适应症状测量协议，将标准泡利误差模型的自适应协议进行了广义化扩展。