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实现高保真度的量子门操作需要精密的控制脉冲来引导量子系统完成目标演化。量子最优控制技术可通过数值模拟以开环方式生成这些控制脉冲，但其精度往往受限于系统认知的不完备性。闭环优化则通过引入测量反馈来突破这一限制，前提是能定义出合适且高效的量子门性能评估指标。本研究团队提出了一种高效的双量子比特门性能评估方法——仅需制备并测量两个量子态即可完成，使得实验闭环优化能够采用以往被认为仅适用于开环控制的评估指标。该工作针对金刚石中的氮空位中心体系定制了这一方法，并通过数值模拟证明：在实际实验条件下，该方法在优化双量子比特门时可将所需测量次数相比标准量子过程层析技术减少两个数量级。