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量子态的制备与验证是量子信息技术中的基础性挑战。该研究团队提出了一种无需层析成像的态验证方法，通过从局域测量数据中估算工程化父哈密顿量项的期望值，从而给出态保真度的下界。该工作将该框架应用于构建一个适用于Dicke态家族（包含单激发Wₙ态）的父哈密顿量，实现了跨该族态的验证与变分优化。研究团队在IBM量子硬件上实验验证了该框架，成功验证了六量子比特Wₙ态的真实多体纠缠特性，并为十三量子比特体系建立了态保真度的正下界。对于双激发和三激发Dicke态，研究人员验证了七量子比特系统的真实多体纠缠特性。在此严格验证框架下，这些成果成为当前可编程量子处理器上最大规模的此类态的可见证验证实验之一。