该研究团队证明，无噪声随机量子电路能以高概率通过线性交叉熵基准测试（LXEB）。当电路具有线性深度（即形成酉4-设计）时，LXEB测试的通过概率为1−O(1/k)，其中k是从随机电路输出分布中独立抽取的样本数。若电路深度达到Õ(n²)（即形成酉n-设计），则通过概率提升至1−O(e⁻ᵏlog(n)/ⁿ)。在证明过程中，研究人员发现线性深度下随机电路碰撞概率具有强集中性，并证实近二次方深度时电路输出概率分布的尾部特征开始趋近波特-托马斯分布。该分析运用了高阶矩理论和高阶近似设计方法。
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2026-02-26 07:10
