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该工作中，研究团队计算了对称积轨形共形场论Sym^N(M)=M^⊗N/S_N中拓扑缺陷间的缺陷相对熵。研究涵盖了两类截然不同的缺陷：实现Rep(S_N)非可逆对称性的普适性缺陷，以及非普适性缺陷。研究证明缺陷相对熵可简化为Kullback-Leibler(KL)散度。所得表达式自然分解为两部分贡献：一部分由对称群S_N的特征标支配，另一部分则由种子有理共形场论的模S矩阵元素控制。值得注意的是，这两组数据均表现为概率分布，从而为对称轨形理论中的置换群数据和模数据提供了信息论诠释。散度结构对缺陷类别高度敏感。对于普适性缺陷，仅置换群数据产生贡献；而对于最大分式化缺陷，置换数据与模数据共同参与并联合定义了相关概率分布。这一特性表明，最大分式化缺陷可被理解为有理共形场论缺陷与对称轨形缺陷的某种乘积。