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Transmon量子比特是现代超导量子计算平台的核心组件。这些量子比特的能量弛豫时间波动通常被归因于器件电介质和界面中的微观二能级系统（TLS），但传统上识别单个缺陷需要将量子比特或TLS调谐至共振状态。该研究团队展示了一种基于多能级弛豫的固定频率Transmon新型谱学方法：通过重复制备第二激发态，同时提取第一和第二激发态的T1弛豫时间，可揭示相邻能级跃迁衰减率的特征性关联。研究人员通过这些关联识别出一个或多个主导性TLS，并重构出其频率随时间漂移的轨迹。值得注意的是，即使TLS与量子比特跃迁频率失谐超过100MHz，仍能对弛豫过程产生显著影响。该方法为TLS谱学研究提供了强大工具，无需通过磁通可调电感或AC-Stark效应来改变Transmon频率。