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该研究团队从理论上探索了测量固态自旋系综极化状态的方案，其精度达到或低于标准量子极限。在固态系统中进行此类测量具有挑战性，因为基于光学荧光的常规方法常受限于较差的读出保真度。虽然目前缺乏对测量噪声源的完整分析，但通过微波谐振腔介导的间接测量提供了极具吸引力的替代方案。本工作研究了非均匀展宽自旋系综与驱动谐振腔耦合产生的色散读出，并采用零差检测进行测量。研究人员推导出通用解析条件，用于判断零差测量何时会受基本自旋投影噪声（而非微波驱动散粒噪声或谐振腔相位噪声）的限制。通过详细分析测量记录的涨落，该工作还提出了一种直接检测自旋压缩的实验方案——即通过量子纠缠降低自旋系综固有投影噪声。该方案为量子增强计量学中的纠缠态基准测试提供了新方法。