从四条拉姆齐条纹精确估计两个纳米机械模式间的耦合强度

研究人员通过实验测定了一对强耦合纳米机械模式之间的耦合强度,采用了一种受拉姆齐干涉启发的技术,该技术针对短至四条干涉条纹的信号进行了优化。该方法被用于精确探测由微波腔读出场调制引起的耦合速率变化,为感知接近单电荷分辨率的静电场波动开辟了新途径。
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提交arXiv: 2026-01-19 21:55

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