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可靠的量子光学存储受限于现实中的非理想因素，如无序耦合和失谐。现有研究大多单独处理这些因素，而实际上它们的协同效应会从根本上制约存储性能。该研究团队建立了首个同时涵盖无序耦合与失谐的综合模型，揭示这些无序性会导致存储态产生随机贝里相位，且无序耦合引发的退相干源于其与失谐的关联效应而非单独缺陷。这一机制在存储容量、存储时长和驱动时间之间形成了根本性制约，为可靠存储设定了普适极限。将分析延伸至基于多存储过程的存储器件时发现，提升参数独立性可增强器件可靠性。该工作进一步提出了测量与校正全局失谐的更精确关系式，对现行实验方案具有直接指导意义。