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自旋电荷条纹是高温超导体中除超导电性外最显著的低温有序态之一。由于有限尺寸效应，该相在数值研究上极具挑战性。通过研究长程孤立条纹的形成机制，该研究团队提出了一个与典型有限掺杂相图互补的研究视角。研究人员采用密度矩阵重整化群算法，在18腿圆柱条带几何结构中提取基态——其直径显著大于以往研究。该方法使该团队能够绘制出电子掺杂侧与空穴掺杂侧可能的条纹填充分数范围，结果与既有研究吻合良好，表明文献中观测到的填充分数分布受单条条纹物理机制支配。通过对条纹形成的微观分析，研究揭示了两种不同机制：高填充区可由简化的压缩空间模型描述，而低填充区则以单个掺杂剂对的结构为特征。由此，该工作将条纹相的唯象学特征回溯至其微观组成，并阐明了在量子模拟实验中观测这两种机制面临的不同挑战。