量子科技中心_量科网

纠缠在量子技术中扮演着核心角色，然而其在材料中的表征与控制仍面临挑战。基于谱学的纠缠见证最新进展为量化宏观材料中的多体纠缠提供了新策略。本研究开发了一种利用实验可实现的共振非弹性X射线散射（RIXS）检测自旋-轨道纠缠的方案。该方案的核心是从实验可测光谱中构建厄米特生成算符，从而计算自旋-轨道系统中的量子费希尔信息（QFI）。所得QFI为k-可积态提供了上界，因此可作为自旋-轨道纠缠的强有力见证。针对实际实验限制，该团队进一步扩展框架，提出了适用于缺乏全偏振分辨率测量的松弛QFI界限。