用于ETPA认证的优化光谱与干涉测量技术

双光子纠缠吸收(ETPA)现象在文献中长期存在争议,其报道的σE截面值差异悬殊。这种差异主要源于难以将ETPA与可能产生类似信号的背景过程(如线性吸收或散射)区分开来。鉴于确证ETPA存在的必要性,该工作提出通过光谱特征分离ETPA贡献的关键策略:将分子建模为双光子陷波滤波器,并诱导其与入射光子的联合光谱强度(JSI)产生可控的非对称重叠。这种非对称性既可用于在透射JSI中产生可测量的畸变,也可作为Hong-Ou-Mandel(HOM)干涉谷可见度的降低指标。为确保该技术的实验可行性,研究人员系统分析了检测所需的实验条件,在纠缠光子对通量和探测器噪声的限制下,确定了必须突破的吸收效率阈值。最后展示了使用标准RhB染料进行ETPA检测极限验证的初步实验。
作者单位: VIP可见
提交arXiv: 2025-11-30 22:24

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