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量子纠错通常需要由于测量噪声而重复进行症状提取，这会导致容错计算中存在显著的时间开销。单次量子纠错的目标是通过仅一轮症状提取来抑制错误。然而，对于大多数编码方案而言，这需要高权重校验操作，这些操作会显著降低（甚至完全消除）电路层面的单次纠错性能。该工作提出了一种局部单次校验方案，通过对校验权重施加约束，并结合动态测量策略，证明所需测量轮数可按照该约束条件成比例减少。以环形码为例，数值模拟表明：在电路级噪声模型下采用缩减窗口尺寸的滑动窗口解码时，该方案相较于传统校验方式能提升解码性能。该研究为构建可降低大规模容错量子计算时间开销的校验方案提供了新思路。