序列式半设备无关量子随机性认证

在实际条件下,量子测量仅能揭示系统的部分信息。然而,通过对同一系统进行连续测量,可以获取额外信息。该研究团队在半设备无关的随机性认证框架下,利用序列化最大置信度测量对这一问题展开研究。研究人员构建了通用理论框架和多功能数值方法,用于量化此类场景中可认证随机性的上限。通过半定规划对偶性,该工作进一步提出计算最小权衡函数的技术,使得该框架能基于熵积累理论,针对自适应攻击策略约束可认证随机性的边界。研究结果表明:最大置信度测量满足充分的判定标准,可实现随机性在序列化测量链中的分发与认证。

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作者单位: VIP可见
提交arXiv: 2025-10-22 10:17

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