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该研究团队提出了一种实用方法，用于在低物理（组件）故障率条件下评估量子纠错（QEC）电路的逻辑故障率。标准蒙特卡罗方法通常是研究量子电路故障率的事实标准，但在研究容错纠错电路时，该方法难以延伸至极低物理故障率场景。特别是对于规模较大或纠错能力较强的电路，当电路中单个组件（逻辑门）的输入故障率降低时，蒙特卡罗方法的适用性会显著下降。因此，多数针对电路模型的仿真研究往往止步于10^-6量级的端到端逻辑故障率。 本报告所述方法借鉴了Bravyi和Vargo早期研究[1]的思路，并将其拓展至更复杂的电路噪声模型。此前研究虽已涵盖容量噪声模型和现象学噪声模型[1-3]，但未能为基于电路的噪声模型构建等效仿真。据研究人员所知，该工作首次针对基于电路的噪声模型，通过分裂技术完整构建了稀有事件仿真方案。初步实验结果已通过常规蒙特卡罗仿真在可行范围内验证，表明该方法可将量子纠错码电路模型中的噪声评估延伸至10^-20以下的故障率区间。