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量子态层析（QST）是量子信息科学中的基础性问题之一。在各类评估指标中，样本复杂度被广泛用于衡量QST算法的性能。虽然多拷贝测量已被证明可实现最优样本复杂度，但其在近期量子设备上的实现仍具挑战性。实际应用中，采用浅层电路的单拷贝测量方案更具可行性。尽管近期已有研究提出了基于单量子比特测量的近最优QST算法，但其样本复杂度仍未达到单拷贝测量条件下的已知下界。该研究团队通过采用深度为𝒪(log⁡n)的n量子比特系统电路，取得两项突破性进展：首先，对于秩为r的d维量子态ρ，在迹距离误差ϵ范围内，实现了𝒪(dr²ln⁡d/ϵ²)的样本复杂度，相较于已知下界Ω(dr²/ϵ²)仅存在ln⁡d因子的差距，达到近乎最优；其次，在r=d的普遍情况下，该团队成功消除了ln⁡d因子，将样本复杂度优化至𝒪(d³/ϵ²)的理论最优值。