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该论文提出了一种高效检测高维双量子比特态纠缠的方法，其核心思想是将希尔伯特空间映射到双量子比特空间。这种转换使得该研究团队能够利用成熟的双量子比特纠缠见证技术。该方案具有三大优势：不局限于特定类型的量子态、可成功识别绝大多数纯纠缠态、所需测量次数不随量子比特维度增加。当应用于两类典型量子态（不完全置换对称态与掺入白噪声的随机纯态）时，该方法展现出稳健的灵敏度。实验验证表明，该方案在当前技术条件下具备可行性。