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该研究团队针对最坏情况下的m个纯态量子态区分问题，推导出“相当好测量”（PGM）成功概率的新下界。该下界严格优于先前基于格拉姆矩阵的边界（当m≥4时）。证明过程借鉴了Barnum和Knill在平均情况PGM分析中的技术，并将其应用于最坏情形分析。通过与顺序测量算法比较，研究证实：在低保真度区域，PGM成功概率相对于态间重叠度的衰减呈二次方关系，而非早期边界所示的线性关系。