量子科技中心_量科网

由栅极定义的半导体量子点需要特定数量的电子才能作为量子比特运行。通常通过分析电荷稳定性图谱来调节电子数量，其中电荷跃迁会表现为图谱边缘特征。因此，为实现量子比特调谐的全自动化，必须可靠地自动识别这些边缘特征。本研究探索了多种可能的检测方法，利用SimCATS框架生成的模拟数据完成算法训练，并基于未来硬件实现需求进行了定量比较。此外，该团队还在砷化镓和硅锗量子比特样本的实验测量数据上验证了优化方法的识别质量。