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基于应用的基准测试正日益被用于量化和比较量子计算机的性能。然而，由于当代量子计算机无法运行实用规模的运算，这类基准测试目前仅能通过“小型”问题实例来评估硬件性能，而这些实例未必能代表实用规模问题。更重要的是，现有基准测试常采用不可扩展的方法，限制了其追踪实用规模应用进展的能力。该研究团队提出了一种方法，可从任何量子算法或应用中创建可扩展的高效基准测试。这项名为子电路体积基准测试（SVB）的技术通过运行从目标电路（可能实现实用规模算法）中“裁剪”出的不同形态子电路实现评估。该方法具有可扩展性，并能通过计算能力系数来量化实现目标电路的进展程度。研究人员在IBM Q系统上使用量子化学算法中的哈密顿量块编码子程序进行了SVB实验验证。