电子显微镜中的自旋压缩

原子物理和量子光学中的量子计量实验已通过多粒子纠缠实现了超越散粒噪声极限的测量精度。与此同时,电子显微镜作为生物系统高分辨率成像的重要工具,其信噪比(SNR)因电子束诱导损伤的剂量限制而受到散粒噪声的严重制约。该研究团队从理论上证明,基于纠缠的量子计量技术——自旋压缩态,天然适用于提升电子显微镜的信噪比。研究人员探索了通过电子-电子库仑相互作用和量子无损测量来生成所需纠缠态的方法。该工作建立了量子计量学与电子干涉测量学之间的桥梁,为突破散粒噪声极限的电子显微技术开辟了新路径。

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