随机电路中由测量诱导的扰乱及涌现对称性
量子纠缠行为受两种机制影响:一是通过幺正演化将纠缠态扩散至整个系统,二是测量操作通常会导致子系统与整体解耦。这两种机制的博弈已被证实会引发测量诱导的相变现象。但更引人注目的是,单纯通过测量即可驱动系统进入不同的纠缠相态。该研究工作将幺正演化与/或测量作用下的纠缠态演变映射为经典自旋问题,由此建立的分析框架成功解析了包括测量诱导相变和纯测量相变在内的多种随机电路模型。针对多体联合测量场景,研究团队推导出了系统进入全局混沌相所需测量范围的下界。此外,在大维度(量子比特维度)极限条件下,某些随机测量模型中还发现了涌现的连续对称性(U(1)或SU(2)),这种对称性使得各类自旋动力学现象均能在随机电路模型中找到对应表现。
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