通过子系统纠缠谱检测临界性的(涌现)连续对称性

临界点的(涌现)对称性是识别普适性类别和有效场论的最重要信息之一,这对各种临界理论至关重要。然而,迄今其底层对称性只能通过对称性破缺相中序参量的维度间接推测,其正确性需要进一步验证,以免遗漏隐藏的序参量——这本身也是一项艰巨任务。在该工作中,研究人员提出了一种无偏见的方法,可在事先不了解低能有效场论的情况下,数值化识别量子多体系统临界点的底层(涌现)对称性。通过数值计算整个系统中极小子系统的约化密度矩阵,纠缠谱中的安德森态塔清晰反映了临界性的底层(涌现)对称性。这一现象归因于:纠缠谱能观测到从临界点沿额外温度轴冷却后,纠缠基态所呈现的对称性破缺。

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