该研究团队从理论上探索了一种调节原子-腔系统耗散率的方法。通过在腔模中插入纳米尖端，研究人员估算出由于尖端散射损耗导致腔耗散率提升约20倍。作为该原位技术的应用案例，该工作展示了当单个原子或离子与谐振器耦合时能够获得异常线。此外，通过调节衰减速率可实现异常点位置的操控，仅通过耗散控制就能引发拓扑相变。
